光伏組件常見問題及檢測方法
【純水(shui)設(she)備hnxinmao.cn】光伏組件常見的質量問題有執郎、陷裂和功率衰減。由于這些質量問題隱藏在電池板內部，或在光伏電站運營一段時間后才發生,在電池板進場驗收時難以識別，需借助專業設備進行檢測。
熱斑形成原因(yin)及檢測方法(fa)
光伏組件熱斑是指組件在陽光照射下，由于部分電池片受到遮擋無法工作,使得被意蓋的部分升溫遠遠大于未被遮蓋部分，純水設備(bei)致使溫度過高出現燒壞的暗斑。
光伏組件熱斑的形成主要由兩個內在因素構成:內阻和電池片自身暗電流。
熱(re)斑耐久(jiu)試驗(yan)是為確定太(tai)陽電(dian)(dian)池(chi)(chi)組件承受(shou)熱(re)斑加熱(re)效應能力(li)的檢(jian)(jian)測(ce)試驗(yan)。通過合理的時間和過程(cheng)，對太(tai)陽電(dian)(dian)池(chi)(chi)組件進行(xing)檢(jian)(jian)測(ce)，用(yong)以表明太(tai)陽電(dian)(dian)池(chi)(chi)能夠在規定的條件下(xia)長期使用(yong)。
熱(re)斑檢(jian)測(ce)(ce)采用(yong)紅外線熱(re)像儀進行檢(jian)測(ce)(ce)。紅外線熱(re)像儀可利用(yong)熱(re)成像技術，以可見熱(re)圖顯示(shi)被測(ce)(ce)目標溫(wen)度(du)及其分布。
隱(yin)裂形成原因及(ji)檢(jian)測方(fang)法
隱裂是指電池片中出現細小裂紋，電池片的隱裂會加速電池片功率衰減，影響組件的正常使用壽命，同時電池片的隱裂會在機械載荷下擴大，有可能導致開路性破壞。隱裂還可能會導致熱斑效應。純水設備隱裂的產生是由于多方面原因共同作用造成的，組件受力不均勻，或運輸過程中劇烈的抖動都有可能造成電池片的隱裂。
光伏組件在出廠前會進行EL成像檢測，所使用的儀器為EL檢測儀。該儀器利用晶體硅的電致發光原理，利用高分辨率的CCD 相機拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺陷。EL檢測儀能夠檢測太陽能電池組件有無隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉換效率單片電池異常現象。
功率衰減分類(lei)及檢測方法(fa)
光伏組件功率衰減是指隨著光照時間的增長，組件輸出功率逐漸下降的現象。光伏組件的功率衰減現象大致可分為三類:第一類，由于破壞性因素導致的組件功率衰減;第二類，組件初始的光致衰減;第三類，組件的老化衰減。其中，第一類是在光伏組件安裝過程中可控制的衰減，如加強光伏組件卸車、運輸、安裝質量控制，可降低組件電池片隱裂、碎裂出現的概率等。第二類、第三類是光伏組件生產過程中亟須解決的工藝問題。光伏組件功率衰減測試可通過光伏組件I—U特性曲線測試儀完成。
1.黑心片（黑團片)
①產生原因:在直拉硅棒生產過程中，晶體定向凝固時間縮短，熔體潛熱釋放與熱場溫度梯度失配，晶體生長速率加快，過大的熱應力導致硅片內部位錯缺陷。
②成像特點:黑芯或黑團片在EL成像圖中可以清晰地看到從電池片中心到邊緣逐漸變亮的同心圓，從而導致缺陷的部分在EL測試過程中表現為發光強度較弱或不發光，從而形成復合密集區,在通電情況下電池片中心一圈呈現黑色區域。
③組件影響:組件出現此缺陷后，長時間運行會造成熱擊穿;在使用組件測試儀測試組件/-U測試特性曲線時，測試曲線呈現臺階形狀;同時長時間運行會導致組件功率下降。
2.短略黑片（非短路黑片)
①產生原因:組件單串焊接過程中造成的短路;組件層壓前,混入了低效電池片造成:硅片使用上錯用N型片,無PN結,故式成像為全黑。
②成像特點:組件某個位置出現一塊或多塊電池片呈現全黑現象。
③組件影響:會造成組件I—U測試曲線呈現臺階，組件功率和填充因子都會受到較大影響;使被短路的電池片不能對外提供功率，整塊組件輸出功率降低，I一U測試曲線量大功率下降。蘇州皙全皙全純水設備公司可根據客戶要求制作各種流量的，,，半導(dao)體超純水(shui)設備。
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